Onto Innovation Inc.

Onto Innovation Inc. 在美国、台湾、韩国、日本、中国、东南亚、亚洲及欧洲从事执行宏缺陷检测与量测的过程控制工具的设计、开发、制造与支持。公司提供光刻系统与过程控制分析软件;以及自动化与集成量测系统、硅片全表面检测、宏缺陷检测、自动缺陷分类与图案分析、良率分析、不透明薄膜量测、4D 业务、先进封装光刻、过程控制软件与良率管理软件产品。公司还通过用于光学量测、宏缺陷检测、封装光刻与透明及不透明薄膜测量的独立系统,为器件封装与测试设施提供过程与良率管理解决方案。此外,公司提供包括独立工具、工具组及全厂级套件解决方案的过程控制软件组合。此外,公司还从事系统与软件、备件及其他服务,并提供软件许可服务;并提供 FAaST、CnCV 与 MBIR 等先进产品线。公司产品用于半导体与先进封装器件制造、硅片、半导体集成电路制造、发光二极管、垂直腔面发射激光器、微机电系统、CMOS 图像传感器、硅与化合物半导体功率器件、模拟器件、RF 滤波器、数据存储及多种工业与科学应用。Onto Innovation Inc. 成立于 1940 年,总部位于美国马萨诸塞州威尔明顿。

数据来源 EODHD，按报告币种列示；仅供参考，非投资建议。